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抗干擾開發系統
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抗干擾開發系統
E1
大部分電子產品需要通過電快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等項目的標準測試。測試時，把干擾脈沖從設備外部耦合到內部，同時監視設備的工作狀態。如果設備沒有通過這些標準的測試，測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。 E1抗干擾開發系統能采用不同的方式，向電子模塊直接注入干擾電流、電場和磁場，在設備內部仿真干擾的過程，以定位電路板上電磁薄弱點，理解耦合機理，完成優化后的設計修改。 E1抗干擾開發系統不能按照某個標準進行兼容性測試。所以建議先對被測物進行標準的抗干擾測試（必要的話，在EMC實驗室進行測試），然后對可能的故障原因進行分析，再利用E1抗干擾開發系統來找出更多的故障原因，并利用E1在產品開發場地進行設計修改的評估。
E1 磁場探頭
S2 set
電子設備和電子元件在干擾作用下會產生快速瞬態脈沖磁場，E1 磁場探頭 S2 set探頭組中包含的有源和無源磁場探頭可以無反饋地測量這些快速瞬態脈沖磁場。借此就可以分析爆沖或ESD-過程，爆沖或ESD會對受測物產生干擾。磁場探頭通過光纖連接把測得的信號傳到SGZ 21的光學輸入口。E1 磁場探頭 S2 set探頭組只能與脈沖群發生器SGZ21 連接使用。
深圳市華瑞高電子技術有限公司
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