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產品目錄

更詳細的產品分類

產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	TEM小室 HTM-3GA	HTM-3GA將工作頻率范圍擴展到現(xiàn)有設備之外，現(xiàn)在允許對集成電路進行3GHz的發(fā)射和抗擾度測試。
	IC帶狀TEM小室 HEM608	horigol的HM608是一個DC到8GHz的IC帶狀TEM小室，它所產生的電磁場，可以用于測試小型設備，如IC、無線通信模塊等。通過HM608的輸入端口施加的外部測試信號產生一致且可預測的TEM測試場。可以使用測試接收器通過端口測量來自TEM小室內部傳輸?shù)脑O備的輻射場。
	TEM小室 TEMZ5233	TEMZ5233型的TEM小室采用小功率功放對小尺寸器件進行測試，采用TEMZ5233型的TEM小室的這種方法相對于暗室加天線的方法便宜許多。
	微帶TEM小室 HEM-8A	horigol的HEM-8A是一個8GHz的IC帶狀線TEM小室，可產生電磁場，用于測試IC、無線通信模塊等小型設備。
	開放式TEM小室 OTEM-3G	我們的3GHz 開放式TEM小室單元型號可配備可選的PCB夾具，可用于根據(jù)SAE J1752-3進行IC 或者PCB板測試。
	3G TEM小室 TEM 3000A	橫向電磁（TEM）小室或克勞福德小室（以其*的名字命名）用于在較寬的頻率范圍內產生的電磁波：DC （0 Hz）至 GHz。單元中產生的電磁波以橫向模式傳播，具有與平面波相同的特性。
	TEM小室 FCC-TEM-JM系列	FCC-TEM小室可用于接收和發(fā)射測試。FCC-TEM小室頻譜設計提供寬頻率響應，優(yōu)異的場均勻性，低駐波比和低插入損失。
	TEM小室 HTM-8G	HTM-8G作為國產替代美國FCC 微波TEM小室將工作頻率范圍擴展到現(xiàn)有設備之外，現(xiàn)在允許對集成電路進行 8GHz的發(fā)射和抗擾度測試。

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