3G TEM小室

產(chǎn)品概述

橫向電磁 （TEM）小室或克勞福德小室用于在較寬的頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生的電磁波：DC （0 Hz） 至 GHz。單元中產(chǎn)生的電磁波以橫向模式傳播，具有與平面波相同的特性。它可用于校準(zhǔn)電場(chǎng)寬帶探頭，以測(cè)試輻射電場(chǎng)抗擾度，以及測(cè)量帶有頻譜分析儀/EMI 接收器的產(chǎn)品的輻射發(fā)射。TEM 單元產(chǎn)生一致的電磁場(chǎng)，用于測(cè)試小型射頻設(shè)備，如無(wú)線(xiàn)尋呼機(jī)、接收器、便攜式電話(huà)等。通過(guò) TEM 單元的輸入端口施加的外部測(cè)試信號(hào)在 TEM 單元內(nèi)產(chǎn)生一致且可預(yù)測(cè)的（平面波）測(cè)試場(chǎng)。位于單元中的設(shè)備（被測(cè)）發(fā)出的輻射場(chǎng)也可以通過(guò)連接到 EMI 接收器或頻譜分析儀的信號(hào)發(fā)生器端口進(jìn)行檢測(cè)。與開(kāi)放區(qū)域測(cè)試場(chǎng) （OATS） 一樣，被測(cè)設(shè)備 （EUT） 放置在底部接地平面上，并符合屏蔽外殼條件。TEM 電池用于*終合規(guī)性認(rèn)證測(cè)試。IEC 61000-4-3 EMC 標(biāo)準(zhǔn)要求使用 TEM 單元進(jìn)行輻射敏感性和輻射發(fā)射測(cè)試。集成電路 （IC）、微機(jī)電系統(tǒng) （MEMS） 設(shè)備和 PCB 也可以根據(jù) SAE J1752-3 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。TEM 細(xì)胞可以在舒適的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)提供與 OATS 相當(dāng)?shù)男阅埽⑶?OATS 誤差*小。與帶狀線(xiàn)相比，TEM 單元的主要優(yōu)點(diǎn)是，在前者中，EUT 完全屏蔽（除了插入/監(jiān)控 EUT 的窗口）與外部環(huán)境無(wú)關(guān)，因此產(chǎn)生的結(jié)果誤差可以忽略不計(jì)。這是 TEM 電池有資格進(jìn)行*終一致性測(cè)試的原因之一。

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