本系統(tǒng)用于依據(jù)IEC 62215第三部分，測量集成電路對脈沖群信號的敏感度，系統(tǒng)由脈沖群信號發(fā)生器、注入探頭和IC測試板等三部分組成：

集成電路電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)，主要有電磁發(fā)射測試標(biāo)準(zhǔn)IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測試）、電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試）以及脈沖抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62215。其中，IEC 62215標(biāo)準(zhǔn)，包括以下三部分：
Part 1：通用條件和定義；
Part 2：傳導(dǎo)抗擾度測量方法——同步脈沖注入法 ；
Part 3：傳導(dǎo)抗擾度測量方法——隨機脈沖注入法參考(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4) 。

本系統(tǒng)用于依據(jù)IEC 62215第三部分，測量集成電路對脈沖群信號的敏感度，測試方法為：由脈沖群信號發(fā)生器產(chǎn)生脈沖信號，使用脈沖群注入探頭，向集成電路的電源引腳或者信號引腳注入脈沖群信號，檢查集成電路的抗干擾性能。

典型配置：

一、BPS201脈沖群信號發(fā)生器
主要技術(shù)指標(biāo)：
脈沖群信號重復(fù)頻率：0.1 Hz - 20 kHz
脈沖群電壓：取決于所連接的注入探頭
極性：正、負或者交替

二、注入探頭
注入探頭，把BPS201產(chǎn)生的信號進行放大后，注入到集成電路的引腳上。
可選4個脈沖群注入探頭，分別為：

三、IC測試板，包括接地平面及IC適配器等
IC測試板，由接地平面、IC適配器、連接板等組成：
· 接地平面：大塊連續(xù)鍍金的地平面是電磁兼容測試中確保EUT（芯片）和探頭保持良好連接的先決條件。
· IC適配器：連接EUT的小電路板。它插在地平面上并包含必需的濾波器。在測試期間它確保可靠的地平面并限制EUT的電源。
· 連接板：連接電路板，在芯片適配器和外部連接器之間。它控制LED的顯示。

其中，接地平面GND，可選：
GND20-01：針對集成電路適配器（22.7 x 22.7mm）的接地平面
GND20-02：針對集成電路適配器（32.7 x 32.7mm）的接地平面
GND20-03：針對集成電路適配器（68.1 x 22.7mm）的接地平面
GND22-04：針對集成電路適配器（100 x 100 mm）的接地平面（符合IEC61967-2標(biāo)準(zhǔn)）
IC適配器卡，用于放置被測IC，濾波器以及連接線。對于一個IC的測試，可能需要具有不同濾波參數(shù)的多個適配器卡。用于電源的濾波器，一般放在連接板上。
IC適配器卡可以由LANGER公司提供，客戶也可以在LANGER公司的協(xié)助下自己做IC適配器卡。

四、測試附件
·CU10控制單元
·OA 4005：四通道示波適配器
·TH 21探頭支架

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